IDT領(lǐng)先的串行RapidIO®,PCI Express®,電源管理,和先進的時機解決方案包括網(wǎng)絡(luò)同步產(chǎn)品超越競爭,使客戶開發(fā)最先進的系統(tǒng)。IDT以其有源晶振和行業(yè)領(lǐng)先的時間組合來處理汽車應(yīng)用。IDT在德國的全資子公司- IDT歐洲有限公司(前身為ZMD AG)運營其卓越的汽車中心。本公司卓越的子公司/中心是ts - 16949，根據(jù)iso26262的標(biāo)準(zhǔn)，支持功能性安全要求。
由于微電子器件的功率耗散，熱能的管理很重要，可以從任何電子產(chǎn)品中獲得最好的性能。一種微電子設(shè)備的工作溫度決定了石英晶體振蕩器產(chǎn)品的速度和可靠性。IDT開發(fā)了與數(shù)字系統(tǒng)相結(jié)合的半導(dǎo)體解決方案，例如處理器和內(nèi)存，彼此之間，以及物理世界。在IDT，我們認(rèn)為作為一個行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者，我們在解決我們星球上一些最偉大的社會和環(huán)境挑戰(zhàn)方面發(fā)揮了關(guān)鍵作用。

IDT晶振,XO晶振,8N4Q001晶振.采用小型無鉛（RoHS 6）10引腳陶瓷5mm x 7mm x 1.55mm封裝封裝。除了由FSEL0和FSEL1引腳設(shè)置的四個默認(rèn)上電頻率之外，IDT8N4Q001可以通過I2C接口進行編程，以15.476MHz至866.67MHz和975MHz至1,300MHz之間的時鐘頻率輸出，具有非常高的精確度頻率步長為435.9Hz÷N（N為PLL輸出分頻器）。
由于FSEL0和FSEL1引腳被映射到四個獨立的PLL分頻器寄存器（P，MINT，MFRAC和N），因此支持在FSEL0和FSEL1控制下將這些寄存器重新編程到其他頻率。擴展的溫度范圍支持無線基礎(chǔ)設(shè)施，電信和網(wǎng)絡(luò)終端設(shè)備要求。

噪音
在電源或輸入端上施加執(zhí)行級別(過高)的不相干(外部的)噪音，可能導(dǎo)致會引發(fā)功能失?；驌舸┑拈]門或雜散現(xiàn)象。IDT晶振,XO晶振,8N4Q001晶振
電源線路
電源的線路阻抗應(yīng)盡可能低。
輸出負(fù)載
建議將輸出負(fù)載安裝在盡可能靠近石英晶體振蕩器的地方（在20 mm范圍之間）。
未用輸入終端的處理
未用針腳可能會引起噪聲響應(yīng)，從而導(dǎo)致非正常工作。同時，當(dāng)P通道和N通道都處于打開時，電源功率消耗也會增加；因此，請將未用輸入終端連接到VCC 或GND。
熱影響
重復(fù)的溫度巨大變化可能會降低受損害的SMD振蕩器的產(chǎn)品特性，并導(dǎo)致塑料封裝里的線路擊穿。必須避免這種情況。
安裝方向
進口晶體振蕩器的不正確安裝會導(dǎo)致故障以及崩潰，因此安裝時，請檢查安裝方向是否正確。
通電
不建議從中間電位和/或極快速通電，否則會導(dǎo)致六腳有源晶振無法產(chǎn)生振蕩和/或非正常工作。

輸出波形與測試電路
1.時序表

2.測試條件
(1)電源電壓
超過 150µs，直到電壓級別從 0 %達到 90 % 。
電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。IDT晶振,XO晶振,8N4Q001晶振
(2)其他
輸入電容低于 15 pF
5倍頻率范圍或更多測量頻率。
鉛探頭應(yīng)盡可能短。
測量頻率時，探頭阻抗將高于 1MΩ。當(dāng)波形經(jīng)過振蕩器的放大器時，可同時進行測量。
(3)其他
CL包含探頭電容。
應(yīng)使用帶有小的內(nèi)部阻抗的電表。
使用微型插槽，以觀察波形。
（請勿使用該探頭的長接地線。）

3.測試電路