大多數(shù)人只知道日本西鐵城公司是做手表，時(shí)鐘產(chǎn)品類的，其實(shí)西鐵城公司是一個(gè)集團(tuán)公司，公司有很多個(gè)分公司，也生產(chǎn)很多種產(chǎn)品,比如石英晶振系列也是西鐵城的主打產(chǎn)品之一，而且早在2001年就在中國建廠以生產(chǎn)石英晶體表晶32.768KHZ系列為主，當(dāng)然最出名的，深入中國人腦海里的還是西鐵城的鐘表了。

西鐵城于2001年7月在梧州投資成立領(lǐng)冠電子(梧州)有限公司,注冊資本3000萬元港幣,主要生產(chǎn)石英晶振、手表、液晶反光塊及其它新型電子元器件,當(dāng)年12月投產(chǎn),2002年出口額為1000多萬美元。

西鐵城在音叉水晶表晶振動(dòng)子（石英晶振）這一領(lǐng)域也是遙遙領(lǐng)先的，與日本元器件品牌愛普生晶振，日本精工晶振seiko,日本大真空KDS晶振,日本村田陶瓷晶振murata,并稱世界日產(chǎn)五大品牌。對于西鐵城晶振動(dòng)子,其要求相比其他各大品牌，工藝也是非常之嚴(yán)格，工藝上除清洗、被銀、點(diǎn)膠、微調(diào)、中測、封焊、檢漏、老化、測試、打標(biāo)、編帶、包裝等步驟外,選用的設(shè)備儀器其優(yōu)點(diǎn)有先進(jìn)性、功能性、適應(yīng)性和經(jīng)濟(jì)性,西鐵城推出3款適合時(shí)鐘上用的音叉表晶,CFS-308晶振,CFS-206晶振,CFS-145晶振。

貼片石英晶體諧振器,又簡稱為排帶包裝,這是這產(chǎn)品采用排帶盤式包裝,使產(chǎn)品在焊接時(shí)能采用SMT自動(dòng)貼片機(jī)高速的焊接,大大節(jié)約人工,提高工作效率.32.768KHz千赫子時(shí)鐘晶體,其本身主要應(yīng)用在時(shí)鐘控制產(chǎn)品,或者是控制模塊,主要給時(shí)鐘芯片提供一個(gè)基準(zhǔn)信號,其主要各項(xiàng)功能還得看應(yīng)用何種產(chǎn)品.本產(chǎn)品具有小型,薄型,輕型的貼片晶振表面型音叉式石英晶體諧振器,產(chǎn)品具有優(yōu)良的耐熱性,耐環(huán)境特性,可發(fā)揮晶振優(yōu)良的電氣特性,符合RoHS規(guī)定,滿足無鉛焊接的高溫回流溫度曲線要求,金屬外殼的封裝使得產(chǎn)品在封裝時(shí)能發(fā)揮比陶瓷諧振器外殼更好的耐沖擊性.

晶振在工作中出現(xiàn)異常技術(shù)問題：

這些晶振知識介紹是指,晶振在產(chǎn)品上線之后發(fā)生不良品或者沒反應(yīng)的情況下,自檢辦法.石英晶振如果在電路上的功能不規(guī)則或根本無法全部晶振找出得到了應(yīng)用操作,請使用以下的清單找出可能存在的問題.請按照確定的因素和可能的解決方案的說明.

我們從晶振使用輸出無信號開始尋找相關(guān)問題.

我們可以先使用示波器或者頻率計(jì)數(shù)器來檢查石英晶體終端的兩個(gè)信號,如果沒有信號輸出,請按照步驟1-1到1-4步執(zhí)行檢查.如果有從石英晶振（XOUT）的輸出端子的輸出信號,而是從在終端（辛）輸出沒有信號,請檢查石英晶振體以下step1-5到步驟1-6.

你可以先把晶體卸載下來并測試晶振的頻率和負(fù)載電容,看看他們是否能振動(dòng),也可以使用專業(yè)的石英晶體測試儀器來檢測 .如果你沒法檢測你也可以將不良品發(fā)送給我公司,我們檢測分析之后告訴你結(jié)果.

如果有下列情況發(fā)生,晶振不起振,首先你先查看你產(chǎn)品上使用的負(fù)載電容CL是否對,是否跟你的線路相匹配,或者是晶振的精度是否符合你的要求,或者你可以把產(chǎn)品發(fā)送回我公司分析.如果晶振頻率和負(fù)載電容跟要求相對應(yīng)的話,我們將需要進(jìn)行等效電路測試.

振蕩電路的檢查方法

振蕩頻率測量

必須盡可能地測量安裝在電路上的諧振器的振蕩頻率的真實(shí)值，

使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中，通常使用探頭和頻率計(jì)數(shù)器。然而,

我們的目標(biāo)是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。

有三種頻率測量模式，如下面的圖所示（圖）。2, 3和4）。最

精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實(shí)現(xiàn)的。

接觸振蕩電路。

探針不影響圖2，因?yàn)榫彌_器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。

逆變器進(jìn)入下一階段。

探針不影響圖3，因?yàn)樵?/span>IC上測量緩沖器輸出（1/1、1/2等）。

圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況，由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。

輸出點(diǎn)之間的電容（3 pF以下XTAL終端IC）和探針。

然而，應(yīng)該注意到，使用這種方法輸出波形較小，測量不能依賴于

即使示波器能檢查振蕩波形，頻率計(jì)數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下，使用放大器來測量。

此外，振蕩頻率與測量點(diǎn)不同。

1。測量緩沖輸出

2。振蕩級輸出測量

三.通過電容器測量振蕩級輸出

圖5示出以上1-3個(gè)測量點(diǎn)和所測量的

除緩沖器輸出外，振蕩頻率較低。