為了獲得穩(wěn)定的振蕩，通常情況下石英晶體單元與振蕩電路的匹配十分重要。若電路結構與晶體單元的匹配 中存在問題，就會產生頻率不夠穩(wěn)定、停止起振或振蕩不穩(wěn)定等問題。石英晶體單元與微機一起使用時需要評 估振蕩電路。確認該石英晶體單元與振蕩電路的匹配之際，至少要對振蕩頻率（頻率匹配）、振蕩裕度（負阻抗） 和激勵功率的三項進行評估。我們在上篇中已經說明了有關頻率匹配的內容，這次將解說振蕩裕度（負阻抗） 和激勵功率的評估方法。

 【1】 振蕩裕度（負阻抗）的評估 

在石英晶體單元的 HOT 端子插入阻抗后檢測是否起振（測試負阻抗 RN），是評估振蕩電路的負阻抗特性與振 蕩裕度的簡單方法。振蕩電路的能力可以通過改變插入的阻抗值（損失的大?。┻M行測試。 圖 1 是測試負阻抗的電路圖。負阻抗的絕對值等于所插入的阻抗值 r 和石英晶體單元連接負載時的等效阻抗（Re） 之和。算式（1）

石英晶體單元連接負載時的等效阻抗（Re）用以下算式（2）求出。

 R1是石英晶體單元無負載電容時的等效串聯(lián)阻抗。 

使用在上次《振蕩電路評估方法（1）》中所介紹的石英晶體單元常數(shù)（R1=33.7Ω、C0=1.11pF、CL=7.8pF）， 代入上述算式（2）后可算出等效阻抗（Re）為 44Ω。

 這時的 R1是石英晶體單元的實測值，而不是參數(shù)值。假設 R1的最大值是 57Ω，Re 受負載電容的影響而 增加到 74?，請注意。

  圖 2 表示插入阻抗以測試負阻抗之例。

 表 1：基于負阻抗計算振蕩裕度（RN/Re）之例 

圖 2：插入阻抗測試負阻抗的情景 

在圖 2 的狀態(tài)下用示波器確認波形。逐漸增大插入的阻抗值 r，尋找不起振的阻抗點。這時忽略因插入阻抗而引 起的振蕩輸出下降和振蕩頻率的變化，只單純判定是否起振。 

決定負阻抗 RN之后，計算振蕩裕度 RN/Re（上述表 1）。 

需要注意的是振蕩裕度低將引發(fā)各種不良現(xiàn)象，例如因電路特性不均而造成的振蕩不穩(wěn)定、不起振或起振時間變長等。

 振蕩裕度為 5 倍以上時，意味著振蕩電路具備激勵石英晶體單元的足夠能力（增幅度），通常不會發(fā)生問題。 如果振蕩裕度在 5 倍以下，則建議變更振蕩電路的電路常數(shù)，或者增大負阻抗 RN，或者減小石英晶體單元的等 效串聯(lián)阻抗 Re，使振蕩裕度保持在 5 倍以上。

 雖然降低微調電容器（Cg、Cd）或限流電阻（Rd）等振蕩電路的電路常數(shù)可使負阻抗變大，振蕩裕度也將隨 之變大，但需要提醒的是，振蕩電路的負載電容隨著電路常數(shù)的變化而變，這將促使振蕩頻率也出現(xiàn)變化。欲 降低石英晶體單元的等效串聯(lián)電阻 R1時，需要向石英晶體生產商提出要求。 

【2】 激勵功率的評估

 激勵功率指石英晶體單元振蕩時所消耗的電力。通常，激勵功率最好控制在石英晶體單元的規(guī)格參數(shù)內，一 般在約 100μW 以下，但需注意的是各石英晶體生產商之間略有不同。

 激勵功率過大時將引起振蕩頻率的變動、穩(wěn)定度下降、等效電路參數(shù)變化或頻率失真等現(xiàn)象。激勵功率偏高還 可能導致反復出現(xiàn)異常振蕩、引發(fā)故障的惡果。激勵功率（P）用下列算式（3）求出。 

這里的 I 是流過石英晶體單元的電流，Re是石英晶體單元帶負載時的等效電阻。如果激勵功率超過了規(guī)格參數(shù)， 就需要調整振蕩電路的常數(shù)，使流過石英晶體單元的電流變小。降低 Cg 或 Cd 可使激勵功率變小，但振蕩電路 的負載電容也將隨之而變。最簡單的方法是增大 Rd，但損失將隨之增大、負阻抗將變小。 

激勵功率不能直接測定。 

把測試針放在與振蕩電路相組合的石英晶體單元 HOT 端子，用示波器測試施加電壓 Vpp，基于實測值計算流過 石英晶體單元的電流。 

 圖 3 表示測試激勵功率時的情景。

 把電流探針插在評估用石英晶體單元的端子上后，裝到印制板的石英晶體單元部。通過示波器確認振蕩后， 根據(jù)波形測出 Vpp。 

例如，假設從示波器的波形得出 Vpp=0.205V、測試探針的設定為 1mA/div、探針阻抗為 50Ω、示波器的測試量程為 50mV/div 以及石 英晶體單元帶負載時等效電阻 Re為 45Ω，那么 Vpp/50[mV/div]=205/50=4.1div 

4.1/（2√2）=1.45div 

50[mV/div]/50Ω=1mA/div， 

由此得出流過石英晶體單元的電流 I 為 1.45div×1mA/div=1.45mA。 

根據(jù)前頁算式（3）計算得出激勵功率 P 為 1.45×1.45×45=95μW。 

圖 3：測試激勵功率的情景 

【3】結尾 

我們分兩次解說了振蕩電路的評估方法，制作最佳振蕩電路需要對（1）頻率匹配、（2）振蕩裕度（負阻抗）和 （3）激勵功率分別進行最佳化。 

雖然對上述任意一項均設定最佳電路常數(shù)的做法最為理想，但實際工作中也會出現(xiàn)不適合的情況。我們在最后 匯總了這時的應對方法。 

表 2：頻率匹配、負阻抗及激勵功率的評估結果與應對方法 

A.使用評估時的電路常數(shù)即可。 

B.需要重審有關激勵功率的石英晶體單元規(guī)格參數(shù)。請確認本次評估結果的激勵功率是否影響石英晶 體單元。 

C.需要重審有關負阻抗的石英晶體單元規(guī)格參數(shù)。請考慮能否變更石英晶體單元等效串聯(lián)阻抗的規(guī)格 參數(shù) R1，使振蕩裕度達到 5 倍以上。

D.關于頻率匹配，需要考慮把事先規(guī)定的標準負載電容調整到裝配石英晶體單元的實際基板的負載電 容。

E.需要采取組合“B＋C＋D”的應對方法。 

F.需要采取組合“B＋C”的應對方法。 

G.需要采取組合“B＋D”的應對方法。 

H.需要采取組合“C＋D”的應對方法。

 謹望上次及本次的信息能成為設計高可靠振蕩電路之際的參考